Inspection par rayons X GE Sensing & Inspecting Technologies

Le modèle microme|x est un système à rayons X à haute résolution dans le domaine submicrométrique pour l'inspection des soudures et des modules électroniques.

Applications (entre autres):

• Électronique industrielle
• Circuits imprimés avec composants
• Semi-conducteurs et autres composants électroniques

Le modèle nanome|x est un système à rayons X nanofocus™ à ultrahaute résolution pour l'inspection d'assemblages de haute qualité et d'interconnections dans l'industrie des semi-conducteurs et des CMS. Il peut être muni en option de l'extension nanoCT.

Applications (entre autres):

• Circuits imprimés avec composants
• Semi-conducteurs et autres composants électroniques