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Der microme|x ist ein hochauflösendes submicron-Röntgensystem für die Inspektion von Lötstellen und elektronischen Baugruppen. Anwendungen u.a.:
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Der nanome|x ist ein ultra-hochauflösendes nanofocus™-Röntgensystem für die Inspektion hochwertiger Aufbau- und Verbindungstechnik in der Halbleiter- und der SMT-Industrie, mit der Option auf nanoCT-Erweiterung. Anwendungen u.a.:
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